Em agosto de 2010 a câmera de contexto a bordo da sonda Mars Reconnaissance Orbiter descobriu uma série de marcas escuras em uma imagem a oeste de Amazonia Planitia que não estavam presentes em uma imagem THEMIS da sonda Mars Odyssey da mesma área em abril de 2008.

Frequentemente, a aparência de tais marcas escuras se deve à formação de uma nova cratera de impacto ou a um grupamento de crateras. A HiRISE foi acionada para obter mais detalhes e confirmar a descoberta.

Esta imagem revela ao menos quatro crateras distintas, cada uma delas rodeada por padrões radiais de materiais ejetados que expuseram rochas escavadas pelo impacto e/ou varreram a poeira mais clara que cobria a superfície. Devido ao calor e pressão na entrada da atmosfera marciana, um único impacto (por exemplo, de um pequeno asteróide ou cometa) pode dividir-se em muitas partes menores, comumente causando um padrão de múltiplos impactos, como o que é visto aqui.

Combinando o monitoramento com as câmeras CTX e HiRISE, um aspecto crucial da ciência marciana está sendo detalhado pela primeira vez: a taxa atual de aparecimento de crateras. Conhecer a taxa com a qual Marte é impactado é essencial para testar modelos e conceitos sobre como as crateras se acumulam na superfície ao longo do tempo e, consequentemente, ajudará a determinar com maior precisão a idade da superfície de Marte. Além disso, caracterizar o fenômeno em termos de quantidade e tipo de impacto pode ser útil para determinar com melhor precisão os tipos de impacto que ocorrem na Lua e outros planetas, bem como a datação das suas superfícies.

Tradução: Thiago Statella